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纳米粒度仪及Zeta电位仪国产厂家

简要描述:BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪是安卓游戏星空2024年新推出的表征纳米体系特性的光学检测系统。

  • 产品型号:BeNano 180 Zeta Max
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-12-13
  • 访  问  量: 5111

详细介绍

产品介绍


BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪是安卓游戏星空2024年新推出的表征纳米体系特性的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS、静态光散射SLS以及透射光检测技术,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta电位,高分子和蛋白体系的分子量、液体的折射率、以及颗粒物浓度信息等等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等等领域的基础研究和质量分析质量控制用途。


纳米粒度仪及Zeta电位仪国产厂家


基本性能指标


1、粒径检测(动态光散射法)

 粒径范围 0.3 nm - 15 μm*
 样品量 最小3μL,常规1ml(可订制其它容量)*
 检测角度  173°+90°+11.2°(可对应高浓度粒度和低浓度粒度)
 样品浓度 ≤40%(W/V)*
粒径算法 Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

2、Zate电位测试

 Zeta范围  无实际限制
 原理 相位分析光散射PALS
 电泳迁移率范围 > ±20 μ.cm/V.s
电导率范围  0 - ≥270 mS/cm *
Zeta测试粒径范围  1 nm – >120 μm *

3、沉降法粒度测试

粒径范围  1 μm - 50 μm *
检测角度  0°(PD检测器)
样品量  1 – 3 ml

4、分子量测试

 分子量范围 342 Da – 2 x 107 Da *

5、微流变测试

测试能力  均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量、复数粘度

6、趋势测试

温度趋势  粒度与Zeta电位随温度变化趋势,自动检测温度转变点Tm
时间趋势粒度与Zeta电位随时间的变化趋势
pH值趋势 粒度与Zeta电位随pH值的变化趋势 *

7、浓度检测

 检测方法 LEDLS
测试能力  体积分数和数量浓度

8、折射率测试

折射率范围与精度 1.2 - 1.6,液体,精度优于0.1%
 检测方法  楔形池样品折射法(无需示踪粒子)
 检测角度  0°(CMOS检测器)
样品量  380 μL – 1 ml

9、系统参数

温控范围 -15°C - 120°C
 冷凝控制  干燥空气或者氮气
 激光器 高性能固体激光器,波长671nm(不同波长激光器可选)
 相关器 快、中、慢多模式,最快25 ns采样,最多 4000通道,1011动态线性范围
检测器  APD+PD+CMOS
 光强控制 0.0001% -100%,自动或手动控制
* 依赖于样品和选件



检测参数


动态光散射

●流体力学尺寸 Dh

●分布系数 PD.I

●扩散系数 D

●颗粒间相互作用力因子 kd

●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

●计算分子量

●溶液粘度和折射率

●流变学信息G*,G‘,G“,η*,J


电泳光散射

●Zeta电位及其分布

●带电颗粒的电泳迁移率


透射

●透射浊度

● 颗粒物浓度

●液体折射率

●沉降法粒度和粒度分布测试


趋势测试

● Zeta电位和粒径的pH滴定

● 粒径和Zeta电位的温度趋势测试


静态光散射

● 绝对分子量Mn、Mw、Mz

● 分子量分布

● 第二维利系数A2



选配件

动静态流动模式

BeNano动静态流动模式(Flow Mode)是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端(FFF、GPC/SEC)相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离,依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号,并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号,得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

纳米粒度仪及Zeta电位仪国产厂家


BAT-1自动滴定仪

样品的Zeta电位和粒径对于分散液介质环境具有强烈的依赖性,尤其是环境pH,不但影响Zeta电位的大小,而且会影响颗粒体系的带电符号。BAT-1自动滴定仪与BeNano系列连用,内置三个高精度滴定泵和一个样品输送泵,具有样品搅拌能力,可以对于样品的粒径和Zeta电位进行自动化的酸碱滴定测试,具有测试效率高、精确定量、重复性好、结果不依赖于操作者等特点。由于盛放样品的样品管可抛弃,避免了交叉污染的风险。

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BeScan稳定性分析仪

BeScan稳定分析仪是基于多重光散射原理的样品稳定性分析设备,通过检测得到样品随空间分布、时间、温度的不稳定性变化,并给出不稳定性指数IUS,粒子迁移速度及样品粒径随时间的变化曲线等信息。 BeScan灵敏的光学系统可以给出超过肉眼200倍以上的灵敏度,能更好的洞悉样品的微观结构变化,从而极大的节约检测时间,缩短配方研制周期。BeScan与BeNano联合使用,通过定量的IUS和Zeta电位信息研究样品的变化及其原因。

纳米粒度仪及Zeta电位仪国产厂家


丹东百特是专业的国产纳米粒度仪/Zeta电位仪厂家






 

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